tanδ测试套件--试验原理及方法？  

责任编辑： 人气： 发表时间：2025-11-05 14:03:03

• tanδ测试套件--试验原理及方法？  
  
  关于tanδ测试套件的试验原理及方法的说明。
  
  试验原理
  
  tanδ测试套件（通常称为介损测试系统）的核心原理是精确测量绝缘介质功率损耗的相对大小。在交流电压下，理想电容器的电流超前电压90°，无能量损耗。但实际绝缘材料（介质）存在损耗，其电流矢量会超前电压矢量一个略小于90°的相位差角δ，此角即为介质损耗角。δ的正切值tanδ（= 有功功率 / 无功功率）即为“介损”，它是衡量绝缘材料质量优劣的关键指标。
  
  该套件通常采用高压标准电容器（Cn）与试品（Cx）构成西林电桥或现代数字化自动平衡电桥。通过精密测量Cx与Cn的电流信号幅值比和相位差，直接计算出tanδ值和试品电容量（Cx）。tanδ值越小，表明绝缘介质纯度越高、质量越好。该方法对绝缘受潮、老化、杂质等分布性缺陷极其敏感。
  
  试验方法（以高压套管为例）
  
  1.  准备与接线（正接法）： 确保设备完全断电、放电并接地。将套件高压源输出端接套管导杆，测量单元输入端接套管末屏。标准电容器和主机可靠接地。正接法适用于接地端绝缘的被试品。
  2.  参数设置与测试： 设置合适的测试电压（如10kV）和频率（50Hz）。启动升压，系统自动平衡电桥并测量。
  3.  读数与分析： 记录tanδ值和电容量Cx。将结果与历史数据、出厂标准或同类设备比较。若tanδ值异常增大，表明绝缘存在整体性劣化；电容量显著变化则预示绝缘结构可能受损。
  
  该测试是诊断高压设备绝缘状态最为有效和精确的方法之一。
  MS-101G2tanδ测试套件
  1、具备CVT的自激法测试，一次接线，同时测量C1、C2的电容和tgδ。
  2、具有反接线低压屏蔽、高压屏蔽功能，在CVT母线接地情况下，对C11可进行不拆线10kV反接线介损测量。
  3、具有外施电压和外加CN的测量功能。
  4、具有CVT变比测量功能，满足35～500kV等级CVT装置的变比测量。
  5、具有多通道同时测量功能，是可以同时测试四个被试品的介质损耗值。
  6、具有LCR自动测量功能，可以对电感、电容、电阻进行测量

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