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tanδ测试套件--用途及原理?
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发表时间:2025-11-25 13:43:56
- tanδ测试套件--用途及原理?
tanδ测试套件(介质损耗因数测试套件)是用于精准评估高压设备绝缘状态的关键仪器。其核心用途是通过测量绝缘材料的介质损耗因数(tanδ)和电容量,灵敏检测电力变压器、互感器、电缆等设备绝缘的整体受潮、老化或劣化等分布性缺陷。这种测试对绝缘状况的变化极为敏感,是至关重要的预防性试验。
其原理基于对绝缘介质功率损耗的测量。在交流电压下,理想绝缘的电流超前电压90°,但实际绝缘存在损耗,电流超前角度不足90°,其差值δ的正切值tanδ即为介质损耗因数,它反映了绝缘的能量损耗比例。
测试时,套件产生高压,通过精密电桥或矢量测量法,对比流经被试品和标准无损电容器的电流。通过测量两者的幅值比和相位差,直接计算出tanδ值。绝缘良好时tanδ值很小且稳定;当绝缘存在分布性缺陷时,tanδ值会显著增大。通过监测这一参数,可实现对绝缘劣化趋势的有效评估。
MS-101G2
1、具备CVT的自激法测试,一次接线,同时测量C1、C2的电容和tgδ。
2、具有反接线低压屏蔽、高压屏蔽功能,在CVT母线接地情况下,对C11可进行不拆线10kV反接线介损测量。
3、具有外施电压和外加CN的测量功能。
4、具有CVT变比测量功能,满足35~500kV等级CVT装置的变比测量。
5、具有多通道同时测量功能,是可以同时测试四个被试品的介质损耗值。
6、具有LCR自动测量功能,可以对电感、电容、电阻进行测量
介质分析仪,tanδ测试套件tanδ测试套件,介质损耗测试仪,介损测试套件
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