自动抗干扰介质损耗测试仪/tanδ测试套件--用途及原理？

责任编辑： 人气： 发表时间：2026-01-06 10:11:43

• 自动抗干扰介质损耗测试仪/tanδ测试套件--用途及原理？
  tanδ测试套件（介质损耗因数测试套件）是用于精准评估高压设备绝缘状态的关键仪器。
  
  其核心用途是通过测量绝缘材料的介质损耗因数（tanδ）和电容量，灵敏检测电力变压器、互感器、电缆等设备绝缘的整体受潮、老化或劣化等分布性缺陷。
  
  这种测试对绝缘状况的变化极为敏感，是至关重要的预防性试验。
  
  其原理基于对绝缘介质功率损耗的测量。在交流电压下，理想绝缘的电流超前电压90°，但实际绝缘存在损耗，电流超前角度不足90°，其差值δ的正切值tanδ即为介质损耗因数，它反映了绝缘的能量损耗比例。
  
  测试时，套件产生高压，通过精密电桥或矢量测量法，对比流经被试品和标准无损电容器的电流。通过测量两者的幅值比和相位差，直接计算出tanδ值。绝缘良好时tanδ值很小且稳定；当绝缘存在分布性缺陷时，tanδ值会显著增大。
  
  通过监测这一参数，可实现对绝缘劣化趋势的有效评估。
  
  MS-101G2tanδ测试套件
  1、具备CVT的自激法测试，一次接线，同时测量C1、C2的电容和tgδ。
  2、具有反接线低压屏蔽、高压屏蔽功能，在CVT母线接地情况下，对C11可进行不拆线10kV反接线介损测量。
  3、具有外施电压和外加CN的测量功能。
  4、具有CVT变比测量功能，满足35～500kV等级CVT装置的变比测量。
  5、具有多通道同时测量功能，是可以同时测试四个被试品的介质损耗值。
  6、具有LCR自动测量功能，可以对电感、电容、电阻进行测量
  
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