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抗干扰介质损耗测试仪介质损耗(tan δ)测试仪10kV

    责任编辑: 人气: 发表时间:2025-12-18 10:02:36
  • 抗干扰介质损耗测试仪,介质损耗(tan δ)测试仪,自动抗干扰介质损耗测试仪10kV介损
    1.具备CVT的自激法测试  一次接线  同时测量C1.C2的电容和tgδ。
    2.具有反接线低压屏蔽.高压屏蔽功能  在CVT母线接地情况下  对C11可进行不拆线10kV反接线介损测量。
    3.具有外施电压和外加CN的测量功能。
    4.具有CVT变比测量功能  满足35-500kV等级CVT装置的变比测量。
    5.具有多通道同时测量功能  是可以同时测试四个被试品的介质损耗值。
    6.具有绝缘电阻测试功能  可进行极化指数.吸收比以及绝缘电阻的测试。
    7.具有LCR自动测量功能  可以对电感.电容.电阻进行测量
    8.采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰  即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。
    9.过流保护功能  在试品短路或击穿时仪器不受损坏。
    10.内附标准电容和高压电源  便于现场测试  减少现场接线。
    11.仪器采用超大屏幕液晶显示  操作简单  测试过程通过汉字菜单提示操作。
    12.仪器里功能界面下有对应的接线图  极大方便操作者接线。

    1.使用条件: -15℃-40℃ RH<80%
    2. 抗干扰原理: 变频法
    3 .电源 ac:220V±10% 允许发电机
    4.高压输出:0.5KV -12KV 每隔0.1kV
    5.精 度: 2%
    6.最大电流:200mA
    7.容 量 :2000VA
    8.自激电源: ac 0V-50V 15A 
    9.单 频 :45.0Hz-65.0Hz 任意可调
    10.双频
    45.0HZ 55.0HZ  47.5HZ 52.5HZ
    55.0HZ 65.0HZ  57.5HZ 62.5HZ
    11.分辨率 tgδ: 01% Cx: 01pF
    12. 精 度 △tgδ:±(读数*1.0%+0.040%).△C x :±(读数*1.0%+1PF)
    13.测量范围 tgδ 没有限制
    C x 15pF < Cx < 300nF
    10KV Cx=(Cx1+Cx2+Cx3+Cx4)< 60 nF
    5KV Cx=(Cx1+Cx2+Cx3+Cx4)<150 nF
    1KV Cx=(Cx1+Cx2+Cx3+Cx4)<300 nF
    CVT测试 Cx=(Cx1+Cx2+Cx3+Cx4)<300 nF
    14. LCR测量范围:电感L>20H(2kV) 电阻R>10KΩ(2kV)
    15.LCR测量精度:1% 角度分辨率 0.01
    16. CVT变比范围: 10-10000
    17.CVT变比精度 :1% CVT变比分辨率 0.01
    18.存储器大小: 组支持U盘数据存储
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