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抗干扰介质损耗测试仪介质损耗(tan δ)测试仪10kV介损
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发表时间:2025-12-18 10:03:56
- 抗干扰介质损耗测试仪,介质损耗(tan δ)测试仪,自动抗干扰介质损耗测试仪10kV介损
1、具备CVT的自激法测试,一次接线,同时测量C1、C2的电容和tgδ。
2、具有反接线低压屏蔽、高压屏蔽功能,在CVT母线接地情况下,对C11可进行不拆线10kV反接线介损测量。
3、具有外施电压和外加CN的测量功能。
4、具有CVT变比测量功能,满足35~500kV等级CVT装置的变比测量。
5、具有多通道同时测量功能,是可以同时测试四个被试品的介质损耗值。
6、具有绝缘电阻测试功能,可进行极化指数、吸收比以及绝缘电阻的测试。
7、具有LCR自动测量功能,可以对电感、电容、电阻进行测量
8.采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰
即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。
9.过流保护功能 在试品短路或击穿时仪器不受损坏。
10.内附标准电容和高压电源 便于现场测试 减少现场接线。
11.仪器采用超大屏幕液晶显示 操作简单 测试过程通过汉字菜单提示操作。
12.仪器里功能界面下有对应的接线图 极大方便操作者接线。
13.具备中英文切换功能。
1 .使用条件: -15℃-40℃ RH<80%
2. 抗干扰原理:变频法
3 .电源: AC 220V±10% 允许发电机
4 .高压输出 :0.5KV -12KV 每隔0.1kV
5.精 度: 2%
6.最大电流 :200mA
7.容量: 2000VA
8.自激电源 :AC 0V-50V 15A
9.单 频 :45.0Hz-65.0Hz 任意可调
10.双频:
45.0HZ 55.0HZ 47.5HZ 52.5HZ
55.0HZ 65.0HZ 57.5HZ 62.5HZ
11.分辨率 tgδ: 01% Cx: 01pF
12.精 度 :△tgδ:±(读数*1.0%+0.040%).△C x :±(读数*1.0%+1PF)
13.测量范围 tgδ 没有限制
C x 15pF < Cx < 300nF
10kV Cx=(Cx1+Cx2+Cx3+Cx4)< 60 nF
5kV Cx=(Cx1+Cx2+Cx3+Cx4)<150 nF
1kV Cx=(Cx1+Cx2+Cx3+Cx4)<300 nF
CVT测试 Cx=(Cx1+Cx2+Cx3+Cx4)<300 nF
14.绝缘电阻 直流高压0.5-10kV 精度:±(读数×2%+10V)
15.测量范围:0.1MΩ-1000GΩ 测量误差:5%x读数+0.1MΩ
16. LCR测量范围 :电感L>20H(2kV) 电阻R>10KΩ(2kV)
17.LCR测量精度: 1% .角度分辨率 0.01
18.CVT变比范围: 10-10000
19.CVT变比精度 :1% .CVT变比分辨率 0.01
tanδ测试套件,介电损耗角测试仪介电损耗角测试仪,介质损耗测试仪,介损测试套件
MS-101G3(CVT变比+LCR+绝缘电阻功能)抗干扰介质损耗测试仪,介质损耗(tan δ)测试仪,自动抗干扰介质损耗测试仪
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